Mikroskopie

30kV-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Link-Mikroanalyse (EDX), eine Auflösung von 4 nm i st hierbei erreichbar! Sputteranlage für homogene Schichten sogar auf extrem stark strukturierten Oberflächen und mit extrem niedriger Temperaturbelastung der Targets

Hochauflösendes optisches Stereomikroskop

Hochgeschwindigkeitskameras zur Analyse ultraschneller Vorgänge unter dem Mikroskop, Auflösung bis zu 1 Mikrosekunde und Lichtverstärkung bis zu 40000x

Digitalmikroskope VHX-100 und VW9000 von Keyence zur 2D- und 3D-Vermessung, sowie Darstellung kleinster Objekte und auch ultraschneller Vorgänge.